SuperViewW1光学形貌轮廓仪测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广，是一款利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器。测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。其特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

CHOTEST中图仪器SJ5730接触式轮廓仪超高精度衍射光学测量系统，具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，分辨率高达0.1nm，系统残差小于2nm，一次测量同时评定轮廓和粗糙度参数。可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量。

SuperViewW1光学三维形貌轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

针对同类型大批量的工件，SJ5780智能粗糙度轮廓扫描仪能进行CNC模式测量，自动分析处理数据，并能将数据进行统计带有SPC功能，能进行多种方式统计分析；还具有导入CAD图纸，和输出PDF功能，可以将理论图纸与实际检测尺寸结果进行比对，特别是一些不规则的轮廓形状时，可以提供直观图形对比。

SJ5730粗糙度表面轮廓仪集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度测量，采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高稳定性气浮隔振系统、高性能计算机控制系统技术，能实现对球面及非球面光学元器件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。

SuperView W1系列光学轮廓粗糙度测量仪可对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。