中图国产光学轮廓仪SuperViewW系列基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

SJ5800中图表面粗糙度测量仪具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，分辨率高达到0.1nm，系统残差小于3nm。操作灵活、智能、简单，轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。

SuperViewW系列光学3D形貌测量轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SJ5800中图粗糙度轮廓度仪器仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术，一次测量扫描后，在同一个界面显示粗糙度评价结果与轮廓分析结果。

SJ5800大量程一体型粗糙度轮廓仪具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，专业测试轴承内外侧。分辨率高达到0.1nm，系统残差小于3nm。与配套软件测量轴承滚道，轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。一次测量扫描后，在同一个界面显示粗糙度评价结果与轮廓分析结果。

SuperViewW高精度3D表面光学轮廓仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。