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三维轮廓测量仪

简要描述:中图仪器SuperViewW1三维轮廓测量仪可测2D/3D轮廓、粗糙度,300余种特征参数,在半导体、精密加工及微纳材料等领域可得到广泛应用,如光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面线粗糙度、金字塔型磁头夹角、微透镜阵列曲率半径等。

  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-06-09
  • 访  问  量:268

详细介绍

品牌中图仪器产地国产
加工定制

中图仪器SuperViewW1三维轮廓测量仪可测2D/3D轮廓、粗糙度,300余种特征参数,在半导体、精密加工及微纳材料等领域可得到广泛应用,如光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面线粗糙度、金字塔型磁头夹角、微透镜阵列曲率半径等。


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SuperViewW1三维轮廓测量仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。


产品功能

1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;

2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;

3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;

4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。


SuperViewW1分辨率0.1μm,重复性0.1%,通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。

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