在制造业高速发展的今天，精密测量技术已成为产品质量控制的核心环节。闪测仪以“开机放件按一键，尺寸报告秒生成”的简易操作模式，解决了传统测量设备操作复杂、效率低下、数据一致性差等问题，提高了工业检测的效率和精度标准。一键闪测：从“人工干预”到...

在当今科技飞速发展的时代，众多行业正朝着精细化、微型化的方向大步迈进。当芯片上的晶体管小到肉眼不可见，当手机摄像头镜片需要纳米级平整度，传统测量工具还能扛得住吗？在这样的行业大背景下，SuperViewWT3000复合型光学3D表面轮廓仪创...

光路调整是确保国产激光干涉仪精度的关键步骤。如果光路未正确调整，可能会导致以下问题：干涉条纹不清晰或不稳定：不良的光路对准会影响干涉图案的清晰度，进而导致测量结果误差。信号衰减：光路的错误调整可能导致激光强度降低，影响探测器的信号接收，降低...

在光学精密加工领域，微纳结构元件的三维形貌检测是保障器件性能的重要环节。以微透镜阵列、衍射光学元件为代表的精密光学元件，其特征尺寸已突破亚微米量级，对表面轮廓精度与结构面形误差的检测要求达到纳米级分辨率。若加工过程中产生的边缘塌陷、周期畸变...

测针轮廓仪广泛应用于表面轮廓测量，主要用于分析工件的表面特性，包括粗糙度、纹理、平整度、形状误差等。在进行精准的测量时，探头的选择至关重要，因为不同类型的探头具有不同的测量能力和适应性。不同类型的探头适用于不同的测量场景。以下是常见的几种探...

晶圆是半导体制造的核心基材，所有集成电路（IC）均构建于晶圆之上，其质量直接决定芯片性能、功耗和可靠性，是摩尔定律持续推进的物质基础。其中晶圆的厚度（THK）、翘曲度（Warp）和弯曲度（Bow）是直接影响工艺稳定性和芯片良率的关键参数：1...