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3d光学轮廓仪SuperView W1

简要描述:3d光学轮廓仪SuperView W1,可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。

  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-08-09
  • 访  问  量:91

详细介绍

品牌中图仪器产地国产
加工定制

3d光学轮廓仪SuperView W1是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。

产品功能

1)系统光源及寿命:双LED光源(白光和绿光),10万小时超长寿命,终身无需更换;

2)测量模式:垂直扫描干涉模式(VSI),相移干涉模式(PSI),结合VSI和PSI的自适应通用测量模式(USI)

3)多区域自动分析:自动获取图案化形貌区域的三维信息(高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等),同时具有自动统计分析功能。提供软件截图;

4)具备各种类型样品表面微观形貌的3D轮廓重建与测量功能;

5)具备表面粗糙度和微观轮廓的检测功能,粗糙度范围涵盖0.1nm到数十微米的级别;

6)具备校平、去除形状、去噪、滤波等数据处理功能;

7)具备粗糙度分析、轮廓分析、结构分析、功能分析等表面参数分析功能;

8)具备自动对焦、自动测量、自动多区域测量、自动拼接测量等自动化功能;

9)具备一键分析、多文件分析等快速、批量分析功能;

10)具备word、excel等数据报表导出功能。

3d光学轮廓仪SuperView W1

性能特色

1.高精度、高重复性

1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和优异的3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;

2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高的测量重复性。

2.一体化操作的测量分析软件

1)测量与分析同界面操作,无须切换,测量数据自动统计,实现了快速批量测量的功能;

2)可视化窗口,便于用户实时观察扫描过程;

3)几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全;

4)一键分析、多文件分析,自由组合分析项保存为分析模板,批量样品一键分析,并提供数据分析与统计图表功能;

5)可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。

3.精密操纵手柄

  集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。

4.双重防撞保护措施

  除初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。

5.双通道气浮隔振系统

  既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。

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