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粗糙度轮廓探针式测量仪

简要描述:SJ5730粗糙度轮廓探针式测量仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。

  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-09-06
  • 访  问  量:174

详细介绍

品牌中图仪器产地国产
加工定制

SJ5730粗糙度轮廓探针式测量仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。

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产品优势

1、专业轴承测量、高稳定、高精密

(1)具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。

(2)分辨率达0.1nm,系统残差小于3nm。

(3)超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。

(4)高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。

(5)精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。

2、操作灵活、智能、简单

(1)轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。

(2)测针一键拔插,设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。

(3)各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。

(4)带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。

(5)智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。

(6)组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。

(7)根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。

(8)软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。

3、自动、批量、快速测量

(1)对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;

对于复杂的工件,可以定工件的任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。

(2)CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。

(3)自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。

部分技术参数

型号SJ5730-100




轮廓参数

测量范围X轴0~100mm
立柱

0~300mm

Z轴±6mm(标准测针杆)(±12mm:选择两倍测针杆时)
扫描速度(扫描轴)0.05~5mm/s
直线度(扫描轴)≤0.2μm/100mm
测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(电子档位可调)







粗糙度参数

适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm(可选更大范围)







粗糙度测量参数

R粗糙度:

Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ;

核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;

P轮廓参数:

Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;

W波纹度轮廓参数:

Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;

Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;

符合标准:

GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002,

DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994,

JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。

滚子分析(选配)

滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度,

分段不同公差

仪器尺寸(长×宽×高)600×350×890(mm)
仪器总重量110Kg

SJ5730粗糙度轮廓探针式测量仪可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。

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