咨询电话:18928463988
Article技术文章
首页 > 技术文章
GTS激光跟踪仪在雷达天线曲面轮廓度检测的应用
2025-06-18

应用背景概述:雷达天线的曲面轮廓度,是影响其信号传输质量及效率的核心因素。哪怕极其细微的轮廓度偏差,都可能引发信号失真,大幅降低雷达的工作性能。因此,在雷达天线的生产环节,实施高精度的曲面测量,确保产品严格契合设计标准,是行业内保障产品质量...

  • 2025-05-26

    测针轮廓仪广泛应用于表面轮廓测量,主要用于分析工件的表面特性,包括粗糙度、纹理、平整度、形状误差等。在进行精准的测量时,探头的选择至关重要,因为不同类型的探头具有不同的测量能力和适应性。不同类型的探头适用于不同的测量场景。以下是常见的几种探...

  • 2025-05-23

    晶圆是半导体制造的核心基材,所有集成电路(IC)均构建于晶圆之上,其质量直接决定芯片性能、功耗和可靠性,是摩尔定律持续推进的物质基础。其中晶圆的厚度(THK)、翘曲度(Warp)和弯曲度(Bow)是直接影响工艺稳定性和芯片良率的关键参数:1...

  • 2025-05-23

    在微观世界的探索之旅中,精准测量材料如同在错综复杂的迷宫中寻找出口,是现代制造业和科研领域的关键任务。台阶仪、光学轮廓仪和共聚焦显微镜,这些看似冰冷的仪器设备,实则是微观世界的“度量衡”,凭借其技术与性能,为我们解锁微观世界的厚度奥秘。Na...

  • 2025-05-23

    当你用手机拍摄一朵花的微距照片时,放大100倍已足够惊艳。但如果告诉你,科学家手中的"相机"能将物体放大百万倍,连病毒表面的蛋白突触都清晰可见,你是否会好奇这背后的黑科技?这把打开微观宇宙的钥匙,正是扫描电子显微镜(SEM)。SEM的"超能...

  • 2025-05-23

    当“精度焦虑”成为制造业的隐形门槛:在半导体光刻中,1nm偏差可能导致整片晶圆报废;在精密机床加工中,热变形让传统测量工具“失灵”……“高精度、高稳定、抗干扰”——工业超精密制造的三大痛点,如何破局?PLR3000系列光纤激光尺基于激光干涉...

  • 2025-05-21

    行业背景概述:X射线计算机断层扫描成像系统,简称CT。近年来,全球CT市场展现出稳健的扩张态势。在亚太地区,伴随各国对医疗基础设施建设的持续投入,以及人口老龄化程度的加深,CT设备迎来了爆发式的市场需求。与此同时,多层螺旋CT、能谱CT等一...

共 418 条记录,当前 2 / 70 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
深圳市中图仪器股份有限公司
  • 联系人:罗健
  • 地址:深圳市南山区西丽学苑大道1001号南山智园
  • 邮箱:sales@chotest.com
  • 传真:86-755-83312849
关注我们

欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息

扫一扫
关注我们
版权所有 © 2025 深圳市中图仪器股份有限公司 All Rights Reserved    备案号:粤ICP备12000520号    sitemap.xml
管理登陆    技术支持:仪表网