晶圆是半导体制造的核心基材，所有集成电路（IC）均构建于晶圆之上，其质量直接决定芯片性能、功耗和可靠性，是摩尔定律持续推进的物质基础。其中晶圆的厚度（THK）、翘曲度（Warp）和弯曲度（Bow）是直接影响工艺稳定性和芯片良率的关键参数：1...

在微观世界的探索之旅中，精准测量材料如同在错综复杂的迷宫中寻找出口，是现代制造业和科研领域的关键任务。台阶仪、光学轮廓仪和共聚焦显微镜，这些看似冰冷的仪器设备，实则是微观世界的“度量衡”，凭借其技术与性能，为我们解锁微观世界的厚度奥秘。Na...

当你用手机拍摄一朵花的微距照片时，放大100倍已足够惊艳。但如果告诉你，科学家手中的"相机"能将物体放大百万倍，连病毒表面的蛋白突触都清晰可见，你是否会好奇这背后的黑科技？这把打开微观宇宙的钥匙，正是扫描电子显微镜（SEM）。SEM的"超能...

当“精度焦虑”成为制造业的隐形门槛：在半导体光刻中，1nm偏差可能导致整片晶圆报废；在精密机床加工中，热变形让传统测量工具“失灵”……“高精度、高稳定、抗干扰”——工业超精密制造的三大痛点，如何破局？PLR3000系列光纤激光尺基于激光干涉...

行业背景概述：X射线计算机断层扫描成像系统，简称CT。近年来，全球CT市场展现出稳健的扩张态势。在亚太地区，伴随各国对医疗基础设施建设的持续投入，以及人口老龄化程度的加深，CT设备迎来了爆发式的市场需求。与此同时，多层螺旋CT、能谱CT等一...

大量程粗糙度轮廓仪是一种能够在广泛的测量范围内对工件表面进行粗糙度分析的精密仪器。它通常采用接触式或非接触式传感器，通过对工件表面的扫描，捕捉表面微观的起伏和波动，从而获取粗糙度数据。该仪器不仅能测量微小的表面细节，还能处理较大尺寸的工件，...