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  • WD4000无图晶圆三维形貌测量仪

    中图仪器WD4000无图晶圆三维形貌测量仪可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。它通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-04-08
  • WD4000晶圆光学无损检测设备

    中图仪器WD4000晶圆光学无损检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-03-28
  • WD4000晶圆翘曲度测试设备

    WD4000晶圆翘曲度测试设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-03-08
  • WD4000半导体晶圆几何量测设备

    中图仪器WD4000半导体晶圆几何量测设备可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-02-27
  • WD4000晶圆形貌测量仪器

    中图仪器WD4000晶圆形貌测量仪器通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-02-21
  • WD4000晶圆表面形貌测量系统

    WD4000系列晶圆表面形貌测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-01-26
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