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详细介绍
| 品牌 | 中图仪器 | 产地 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
您是否面临着“精度不足导致产品返工"“大区域检测效率低下"“操作复杂人力成本高"“设备易损耗运维贵"“售后响应滞后影响生产"等测量困境?作为专业共聚焦显微镜厂家,依托自主研发技术、全系列产品布局与本土化服务优势,我们的VT6000系列共聚焦显微镜,全程直击痛点、解决实际问题!

1. 技术特性:自主研发核心技术,筑牢测量根基
(1)采用尼普科夫转盘共聚焦光学系统,搭配自主3D重建算法与隔震设计;
(2)支持ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准,覆盖300余种2D/3D测量参数;
(3)推出VT6100/6200/6300全系列型号,XY轴行程100-300mm,适配不同尺寸工件。
2. 产品功能特性:全维适配工业场景
(1)3D+2D双维度测量,同步实现微观形貌表征与长度、角度、半径等尺寸检测;
(2)搭载自动拼接、一键批量分析功能,搭配X/Y/Z三轴集成操纵杆;
(3)双重防撞保护(镜头弹簧结构+压力传感器)+ 光源智能节能设计;
(4)标配10×/50×(APO)物镜,可选5×/20×/100×(APO),兼容光滑/粗糙、低/高反射率材质。
3. 厂家服务特性:本土化全链条保障
(1)自主生产制造,合同生效后60天内免费送货上门;
(2)现场安装调试+定制化操作/维修培训,质保期1年(故障修复后顺延);
(3)2小时故障响应,72小时内上门维修,配件供应链稳定。
1. 精度优势:数据精准可追溯,远超行业标准
(1)高度测量精度≤(0.2+L/100)μm、重复性≤12nm,宽度测量精度±2%、重复性≤40nm,微观细节捕捉无偏差;
(2)隔震设计消减振动干扰,测量数据一致性强,无需反复校准。
2. 效率优势:批量+拼接双提升,减少人力投入
(1)自动拼接功能实现大区域无断层测量,无需手动拆分,检测效率提升30%以上;
(2)自定义分析模板+一键批量分析,多文件同步处理,替代80%人工操作。
3. 适配优势:全场景覆盖,无需额外定制
(1)100-300mm多行程可选,VT6300搭载12英寸真空吸盘,适配从小型精密器件到大型工业部件;
(2)兼容半导体晶圆、3C玻璃屏、汽车齿轮、MEMS器件等多行业材料,无需更换设备即可满足多元测量需求。
4. 耐用+服务优势:降低综合成本,无后顾之忧
(1)镜头碰撞自动急停、光源无人值守熄灭,设备使用寿命延长20%;
(2)本土化厂家直连,避免中间环节,售后响应速度比进口品牌快50%,配件采购成本降低30%-50%。
1. 解决“测量精度不足"痛点→ 提升产品良率,降低返工成本
微米级精度+高重复性,让粗糙度、平面度、微观几何轮廓等参数测量零偏差,半导体封装、汽车零部件装配等场景的产品合格率提升15%-20%,减少因尺寸不合格导致的材料浪费与返工损耗。
2. 解决“检测效率低下"痛点→ 缩短生产周期,节省人力开支
大区域自动拼接+批量分析,原本需要3人/天完成的检测任务,现在1人/半天即可完成,人力成本降低60%,同时缩短产品出厂周期,助力企业抢占市场先机。
3. 解决“场景适配性差"痛点→ 减少设备投入,适配多元需求
全系列型号+多材质兼容,一台设备覆盖从纳米到微米级、从小型器件到超大工件的测量需求,无需为不同场景单独采购设备,初期采购成本降低40%以上。
4. 解决“设备易损+售后滞后"痛点→ 稳定生产,无停机顾虑
双重防护设计减少设备故障,本土化厂家售后2小时响应、72小时上门,避免因设备损坏或售后等待导致生产线停机,保障生产连续性。
5. 解决“数据不合规"痛点→ 满足审核要求,助力研发创新
符合国际国内四大标准,300余种参数可追溯,既满足下游客户审核、行业合规要求,也为科研院所的微纳材料研发、企业技术升级提供精准数据支撑。
1.半导体行业:为头部晶圆制造企业提供VT6300设备,检测激光烧蚀槽道几何轮廓,重复性≤12nm,助力封装良率提升18%;
2.3C电子行业:为玻璃屏厂商适配VT6200,200×200mm全域平面度测量效率提升40%,人力成本减少2/3;
3.科研院所:为MEMS器件研发提供VT6100,支持复杂微结构3D参数分析,加速技术转化周期。

助您降低返工成本、缩短生产周期,节省人力开支!如需获取对应行业定制方案、型号参数对比表或免费样品测试,欢迎直接咨询中图仪器共聚焦显微镜厂家。
注:产品参数与配置以实际交付为准,厂家保留根据技术升级调整相关内容的权利,恕不另行通知。
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