CEM3000实验室高抗振防磁扫描电镜空间分辨率出色和易用性强，用户能够非常快捷地进行各项操作。甚至在自动程序的帮助下，无需过多人工调节，便可一键得到理想的拍摄图片。CEM3000系列上还运用了快速抽放气设计，让用户在使用时不再等待，且全系列可选配低真空系统，以便精准调节样品仓内真空度，满足不同样品的观测需求。

NS系列高精度探针接触式台阶仪单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。

CEM3000系列桌面式能谱扫描电子显微镜凭借其简便的操作系统，让复杂的扫描电镜使用过程变得简单快捷。样品一键装入，自动导航和一键出图能力（自动聚焦+自动消像散+自动亮度对比度）帮助用户在短短几十秒内就可获取高清图像，大大提升了使用效率。

CEM3000系列纳米尺度观测扫描电子显微镜凭借其简便的操作系统，让复杂的扫描电镜使用过程变得简单快捷。样品一键装入，自动导航和一键出图能力（自动聚焦+自动消像散+自动亮度对比度）帮助用户在短短几十秒内就可获取高清图像，大大提升了使用效率。

国产chotest共聚焦显微镜VT6000系列以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，主要用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。

​SuperViewW系列白光干涉3d表面形貌仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。