NS系列探针式台阶高度测量仪通过2μm金刚石探针与LVDC传感器的协同工作，结合亚埃级分辨率（5 Å）与智能化分析软件，可精准测量台阶高度（纳米至1050μm）、表面粗糙度（Ra、Rz等参数）、膜层厚度及应力分布，为材料研发、工艺优化与质量管控提供可靠数据支持。

CEM3000扫描电子显微电镜SEM采用的钨灯丝电子枪，发射电流大、稳定性好，以及对真空度要求不高。台式电镜无需占据大量空间来容纳整个电镜系统，这使其甚至能够出现在用户日常工作的桌面上，在用户手边实时呈现所得结果。

SuperViewW白光干涉粗糙度测量仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

CEM3000国产扫描电镜SEM厂家凭借其简便的操作系统，让复杂的扫描电镜使用过程变得简单快捷。在工业领域展现出广泛的应用价值，标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。

VT6000系列3D共聚焦显微系统主要用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。

SuperViewW系列白光干涉非接触式轮廓仪测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。