CEM3000系列台式钨灯丝扫描电镜在工业领域展现出广泛的应用价值，标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。

NS系列探针式薄膜厚度台阶仪通过2μm金刚石探针与LVDC传感器的协同工作，结合亚埃级分辨率（5 Å）与智能化分析软件，可精准测量台阶高度（纳米至1050μm）、表面粗糙度（Ra、Rz等参数）、膜层厚度及应力分布，为材料研发、工艺优化与质量管控提供可靠数据支持。

CEM3000系列纳米级成像高分辨扫描电镜高易用性快速成像、一键成片，无需过多人工调节。超高分辨率优于4nm(SE)，优于8nm(BSE)@20kV，超大景深毫米级别景深，具有高空间分辨率。

CEM3000系列高倍成像台式扫描电镜操作系统简便，使用过程简单快捷。样品一键装入，自动导航和一键出图能力（自动聚焦+自动消像散+自动亮度对比度）帮助用户在短短几十秒内就可获取高清图像，大大提升了使用效率。

NS系列高精度探针式台阶仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。

CEM3000系列扫描电镜SEM品牌在工业领域展现出广泛的应用价值，标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。