共焦显微镜系统所展现的放大图像细节要高于常规的光学显微镜。在相同物镜放大的条件下，共焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高。VT6000转盘共聚焦光学测量显微镜具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。

针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS系列台阶厚度仪结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势。

VT6000材料型转盘共聚焦显微镜以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，能测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现。

SuperViewW1白光干涉仪显微镜应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。广泛应用于如纳米材料、航空航天、半导体等各类精密工件表面质量高要求的领域中，可以说只有白光干涉仪才能达到微型范围内重点部位的纳米级粗糙度、轮廓等参数的测量要求。

VT6000系列3d形貌共聚焦光学显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

NS200探针式台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。